Laboratorium umożliwi uzyskanie informacji ilościowej oraz jakościowej o procesach fizykochemicznych zachodzących na powierzchniach metalicznych, półprzewodnikowych, izolatorów oraz materiałów proszkowych i biologicznych.

Zastosowanie wymienionych technik badawczych pozwoli na poszukiwanie materiałów o nowych i niespotykanych własnościach oraz udoskonalenie już istniejących.

Pracownia mikroskopii sił atomowych (AFM)
Mikroskop sił atomowych (AFM) z głowicą szybkoskanującą FastScan umożliwia prowadzenie badań powierzchni materiałów półprzewodnikowych, metalicznych, izolatorów oraz próbek biologicznych w ich naturalnym środowisku, w zakresie temperatur od -35˚C do 250˚C.

Głowice, w które jest on wyposażony dostarczają informacji na temat topografii badanej powierzchni oraz wielkości takich jak: chropowatość, tarcie, adhezja, sprężystość, zdolność przewodzenia prądu elektrycznego oraz pozwalają na określenie magnetycznych właściwości badanej powierzchni.

Główne usługi:
- Tworzenie map powierzchniowych w nanoskali, uwzględniających takie właściwości jak: tarcie, adhezję, sprężystość, chropowatość, rozkład ładunku elektrostatycznego, przewodność elektryczną, strukturę domen magnetycznych czy przewodność termiczną
- Obserwacja procesów zachodzących na badanej powierzchni w czasie rzeczywistym, w zakresie temperatur od -35˚C do 250˚C.
- Badanie topografii powierzchni (z wykorzystaniem dostępnych trybów pracy) próbek półprzewodnikowych, izolatorów, metalicznych oraz biologicznych o średnicy do 210 mm i wysokości 15 mm.
- Badanie próbek biologicznych w ich naturalnym środowisku

Wyposażenie laboratorium:

Mikroskop sił atomowych (AFM):
Głowica skanująca FastScan: umożliwia szybkie skanowanie w zakresie do 35μm w osiach XY oraz do ≤ 3μm w osi Z, pracuje w zamkniętej pętli sprzężenia zwrotnego i posiada kompensowane termicznie sensory tensometryczne. Obsługuje standardowo następujące tryby pracy: Peak Force Tapping / Scan Asyst (w powietrzu lub w cieczach), Tapping Mode (w powietrzu oraz cieczach), Phase Imaging, Contact Mode, Lateral Force Microscopy, Magnetic Force Microscopy (MFM), Electrostatic Force Microscopy (EFM).

Głowica skanująca Dimension Icon XYZ Closed-Loop:
umożliwia skanowanie w zakresie do 90 μm w osiach XY oraz do ≤ 10μm w osi Z, pracuje w trybie closed-loop z czujnikami kompensującymi dryf termiczny w osiach X,Y oraz Z. Głowica obsługuje standardowo następujące tryby pracy: TappingMoge, Contact Mode, Lateral Force Microscopy, Phase Imaging, Nanomechanical Mapping, Peak Force QNM, Torsional Resonance, Force Volume, Force Spectroscopy, Surface Potential, Piezo Response, Electrostatic Force Microscopy (EFM), Magnetic Force Microscopy (MFM), Peak Force TUNA, CAFM – Conductive

AFM, SCM – Scanning Capacitance Microscopy

Opiekun laboratorium:
dr Rafał Szukiewicz

W razie pytań dotyczących komercyjnego i naukowego wykorzystania Laboratorium zapraszamy do kontaktu:

tel. 71 720 16 45
laboratoria@eitplus.pl

 

Zobacz również