Laboratorium Badań Struktury Ciała Stałego
|
Laboratorium umożliwi uzyskanie informacji iloÅ›ciowej oraz jakoÅ›ciowej o procesach fizykochemicznych zachodzÄ…cych na powierzchniach metalicznych, póÅ‚przewodnikowych, izolatorów oraz materiaÅ‚ów proszkowych i biologicznych.
Zastosowanie wymienionych technik badawczych pozwoli na poszukiwanie materiaÅ‚ów o nowych i niespotykanych wÅ‚asnoÅ›ciach oraz udoskonalenie już istniejÄ…cych.
Pracownia mikroskopii sił atomowych (AFM)
Mikroskop siÅ‚ atomowych (AFM) z gÅ‚owicÄ… szybkoskanujÄ…cÄ… FastScan umożliwia prowadzenie badaÅ„ powierzchni materiaÅ‚ów póÅ‚przewodnikowych, metalicznych, izolatorów oraz próbek biologicznych w ich naturalnym Å›rodowisku, w zakresie temperatur od -35ËšC do 250ËšC.
GÅ‚owice, w które jest on wyposażony dostarczajÄ… informacji na temat topografii badanej powierzchni oraz wielkoÅ›ci takich jak: chropowatość, tarcie, adhezja, sprężystość, zdolność przewodzenia prÄ…du elektrycznego oraz pozwalajÄ… na okreÅ›lenie magnetycznych wÅ‚aÅ›ciwoÅ›ci badanej powierzchni.
GÅ‚ówne usÅ‚ugi:
- Tworzenie map powierzchniowych w nanoskali, uwzględniających takie właściwości jak: tarcie, adhezję, sprężystość, chropowatość, rozkład ładunku elektrostatycznego, przewodność elektryczną, strukturę domen magnetycznych czy przewodność termiczną
- Obserwacja procesów zachodzÄ…cych na badanej powierzchni w czasie rzeczywistym, w zakresie temperatur od -35ËšC do 250ËšC.
- Badanie topografii powierzchni (z wykorzystaniem dostÄ™pnych trybów pracy) próbek póÅ‚przewodnikowych, izolatorów, metalicznych oraz biologicznych o Å›rednicy do 210 mm i wysokoÅ›ci 15 mm.
- Badanie próbek biologicznych w ich naturalnym Å›rodowisku
Wyposażenie laboratorium:
Mikroskop sił atomowych (AFM):
GÅ‚owica skanujÄ…ca FastScan: umożliwia szybkie skanowanie w zakresie do 35μm w osiach XY oraz do ≤ 3μm w osi Z, pracuje w zamkniÄ™tej pÄ™tli sprzężenia zwrotnego i posiada kompensowane termicznie sensory tensometryczne. ObsÅ‚uguje standardowo nastÄ™pujÄ…ce tryby pracy: Peak Force Tapping / Scan Asyst (w powietrzu lub w cieczach), Tapping Mode (w powietrzu oraz cieczach), Phase Imaging, Contact Mode, Lateral Force Microscopy, Magnetic Force Microscopy (MFM), Electrostatic Force Microscopy (EFM).
GÅ‚owica skanujÄ…ca Dimension Icon XYZ Closed-Loop:
umożliwia skanowanie w zakresie do 90 μm w osiach XY oraz do ≤ 10μm w osi Z, pracuje w trybie closed-loop z czujnikami kompensujÄ…cymi dryf termiczny w osiach X,Y oraz Z. GÅ‚owica obsÅ‚uguje standardowo nastÄ™pujÄ…ce tryby pracy: TappingMoge, Contact Mode, Lateral Force Microscopy, Phase Imaging, Nanomechanical Mapping, Peak Force QNM, Torsional Resonance, Force Volume, Force Spectroscopy, Surface Potential, Piezo Response, Electrostatic Force Microscopy (EFM), Magnetic Force Microscopy (MFM), Peak Force TUNA, CAFM – Conductive
AFM, SCM – Scanning Capacitance Microscopy
Opiekun laboratorium:
dr Rafał Szukiewicz
W razie pytań dotyczących komercyjnego i naukowego wykorzystania Laboratorium zapraszamy do kontaktu:
tel. 71 720 16 45
laboratoria@eitplus.pl